原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。

產(chǎn)品型號：HG13- NanoFirst-2000

更新時間：2024-05-23

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化工實(shí)驗(yàn)設(shè)備

微波消解儀常用儀器蒸氣壓測定儀真空干燥箱低溫專用人體測溫儀搖床量熱儀培養(yǎng)箱系列振蕩器系列攪拌器系列水浴鍋系列離心機(jī)系列 ·粉碎機(jī)系列 ·電熱產(chǎn)品系列 ·養(yǎng)護(hù)箱系列 ·試驗(yàn)箱 ·粉體測試儀器 ·天平系列 ·比重計(jì)系列 ·顯微鏡系列 ·過濾器系列 ·臭氧系列 ·發(fā)酵培養(yǎng)產(chǎn)品 ·細(xì)胞分離破碎產(chǎn)品真空過濾產(chǎn)品 ·滅菌和接種產(chǎn)品 ·生物凍存轉(zhuǎn)運(yùn)設(shè)備 ·清洗機(jī)系列 ·溫度計(jì)系列 ·壓力計(jì)系列電升溫導(dǎo)熱油爐 ·離心泵系列

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產(chǎn)品介紹

原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡

型號：HG13- NanoFirst-2000

產(chǎn)品介紹：

原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，zui后接受信號經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標(biāo):
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標(biāo))
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）